2024年2月5日发(作者:)
修订履历
版本
A/0
i修订内容
新制订
日 期
2015-10-21
修/制订者
审 核
批 准
适用范围:
本设计规范适用于鹏毅公司Type-C数据线规格书,未尽规格描述以协会规范为准。
编写依据:
序号No.
1
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EIA-364-103
IEC 68-2-1
GB/T
IEC 68-2-2
GB/T
IEC 68-2-10
GB/T
ASTM G 21
IEC 61587-1
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GR 487
IEC 68-2-30
GB/T
IEC 68-2-52
GB/T
IEC 529
GB 4208
EIA-364-38B
EIA-364-41C
IEC 60950
EN 60950
UL 60950
GB 4943
IEC60332
文件编号Doc No.
GJB1217
MIL-STD-202G
GB/T 3048
GB4098
EIA-364-101
EIA-364-106
EIA-364-108
电连接器试验方法
Test method standard electronic and electrical component parts
电线电缆电性能试验方法
射频电缆试验方法
Attenuation Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or
Interconnection Systems
Standing Wave Ratio (SWR) Test Procedure for Electrical Connectors
Impedance, Reflection Coefficient, Return Loss, and VSWR Measured in the Time and
Frequency Domain Test Procedure for Electrical Connectors, Cable Assemblies or
Interconnection Systems
工作电容试验-电桥法
Propagation Delay Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable
Assemblies or Interconnection Systems
基本环境试验规程 试验A:寒冷
电工电子产品基本环境试验规程 试验A:低温试验方法
基本环境试验规程 试验A:干热
电工电子产品基本环境试验规程 试验B:高温试验方法
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验J和导则:长霉0020的
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验J和导则:长霉
Standard Practice for Determining Resistance of Synthetic Polymeric Materials to
Fungi
Mechanical structures for electronic equipment―Tests for IEC 60917 and IEC
60297―Part 1 Climatic mechanical tests and safety aspects for cabinets racks
subracks and chassis
Generic Requirements for Electronic Equipment Cabinets
基本环境试验规程 试验Db及导则:交变湿热(12+12h循环)
电工电子产品基本环境试验规程 试验Db:交变湿热试验方法
电工电子产品环境试验 第2部分:试验 试验Kb:盐雾,交变(氯化钠溶液)
电工电子产品环境试验 第2部分:试验 试验Kb:盐雾,交变(氯化钠溶液)
Degrees of protection provided by enclosure(IP code)
外壳防护等级(IP代码)
Cable pull-out test procedure for electrical connectors
Cable flexing test procedure for electrical connectors
Safety of information technology equipment
Safety of information technology equipment
Safety of information technology equipment
信息技术设备的安全
Tests on electric cabies under fire conditions
文件名称 Doc Title
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GB/T18380
UL1581
GR 1217
GR 950
电缆在火焰条件下的燃烧试验
Reference standard for electical wires,cables,and flexible cords
Generic requirements for separable electrical connectors used in
telecommunications hardware
Generic Requirements for Optical Network Unit (ONU) Closures
Type-C数据线正常工作和存储条件
数据线应能在下列条件下正常工作:
环境工作温度:-20℃~+70℃(仅作单体验证目的,与整机匹配时以整机试验环境为准);
相对湿度:5%~95%;
大气压力:86 kPa~106kPa;
Type-C数据线的存储温度:-40℃~+85℃;
Type-C连接器的PIN点定义
Type-C插头外形尺寸设计要求
铁壳宽度
铁壳厚度
铁壳外露长度
插头厚度
插头宽度
Max
Max
Type-C系列产品的设计要求
Type-C数据线产品种类:
TYPE-C TO USB AM
TYPE-C TO USB AM
TYPE-C TO TYPE-C(版本)
TYPE-C TO TYPE-C(版本)
TYPE-C TO MICRO USB
TYPE-C TO BM
Type-C TO Type-C接线定义
Type-C TO Type-C接线定义
Type-C TO AM接线定义
Type-C TO AM接线定义
Type-C TO BM接线定义
Type-C TO Micro BM接线定义
Type-C TO Micro BM接线定义
Type-C 系列线缆的设计要求:
Type-C标准线材线规要求
Type-C TO Legacy线材线规要求
Type-C 标准线材的设计
同轴线设计
对绞线设计
Type-C系列数据线对eMARK的选用设计
Type-C系列数据线对上拉和下拉电阻的选用设计
Type-C数据线外观要求如下:
1、 参照样品和PDM图纸检验,线缆两端插头的结构外型(型号)要求与样品一致;
2、 插头不允许氧化/生锈、残缺、变形;
3、 用干布(无尘布)能擦除的脏污,允许;用干布(无尘布)不能擦除的脏污,不允许;【注:金属插头脏污不良超出1%(不良数/样本数)时,提交不合格电子流确认】
4、 插头上不允许有油渍;
5、划痕L≤2mm,W≤0.1mm,用手触摸无深度感,允收一条;
6、USB A公插头内不允许有溢胶的现象;
7、USB A公插头内的连接器PIN脚不允许氧化/生锈、翘高、变形、PIN脚内陷/断裂不良;
8、金属插头(USBA公以及MICRO B公)与注塑部分匹配正常,不允许歪斜,夹角90o±
检验整体数据线是否存在色差,色差问题须参照样品进行检验。
1、标签上的印刷图案和字体要求与样品一致,并清晰可辨;
2、数据线上的标签不允许破损、折皱、起膜;
3、插头上的铭牌在槽内偏移的最大尺寸不允许超过;
4、旗舰标签对折粘贴后的歪斜程度≤1mm;
1、注塑部位(USB A公外膜、DC插头外膜、磁环外膜)不允许缺胶、破损;
2、合模线(毛边)H≤;
3、水口位(毛边)在不刺手的前提下, H≤1mm,可接收;
4、压痕L≤5mm,W≤,USB A公外膜每面允收一条,DC外膜允收一条;
5、点状压痕D≤,USB A公外膜每面允收一条,DC外膜允收一条;
1、 线材不允许有破损、漏铜;
2、 线材上不允许有脏污;
3、 点状压痕D≤,DS≥25mm,允收6个;
4、 线状压痕L≤5mm,W≤1mm,DS≥25mm,允收3条;扎带下的压痕允许;
5、 有感刮伤:L≤5mm,W≤1mm,DS≥25mm,允收2条;无感刮伤:L≤30mm,W≤1mm,
DS≥30mm,允收3条;
金属插头/pin脚检查
色差
外观
标签检查
注塑部位
线材外观
9.0 Type-C数据线可靠性要求
Test condition
Temperature:15℃ to 35℃
Air pressure :86 to106 kPa
Relative humidity:25% to 85%
NO
Test
description
寿命测试
Test procedure
EIA364-09
20-30次/Min
EIA364-13
2
插入力
1.插拔力测试仪器
2.测试速度为分钟
3.单位为N
EIA364-13
1.插拔力测试仪器
2.测试速度为分钟
EIA 364-38A
1.轴向固定线缆PLUG;
2.距离PLUG端 10cm处进行负重;
3.重量40N;
4.持续1分钟
EIA 364-41
Performance
USB A 3000次, 电气性能正常
Micro B 10000次, 电气性能正常
Type-C 10000次 电气性能正常
Micro USB插拔耐久测试前后:插入力大于等于6N,小于等于25N
Type-C插拔耐久测试前后:插入力大于等于5N,小于等于20N
Micro USB插拔耐久测试前后:拔出力大于等于8N,小于等于25N
Micro USB插拔耐久测试前后:拔出力大于等于8N,小于等于20N
线缆无开路、短路、绝缘击穿;
外背jacket无断裂;
连接器与线缆无分离;
芯线端点无脱离连接器;
电气性能正常;
Related
standard
EIA364-09 1
EIA364-13
3
拔出力
EIA364-13
4
抗拉脱
EIA
364-38A
5
1.弯折角度水平和垂直方向各+/-90°;
次/分钟;
3. 测试5000次(水平500次端口抗弯折
—>垂直100次为1个循环,共5个循环)
4.负重200g;
测试完成后需对测试端SR处线缆进行上、下、左、右、左上角、右上角、左下角、右下角多角度检测,无开路、短路、绝缘击穿;
外背jacket无断裂;
连接器与线缆无分离;
芯线端点无脱离连接器;
电气性能正常;
导通阻抗符合规格要求,并记录实际值
测试完成线缆无损坏,松脱;
连接器可以无明显尺寸变化;
电气性能正常
测试完成线缆无损坏,松脱;
连接器可以无明显尺寸变化;
电气性能正常
EIA 364-41
6
滚筒跌落
跌落高度1米,跌落次数150次,每50检查一次,跌落速度参考值10-12次/分次(以跌落在滚筒铁板中心位置为准)
跌落高度米,按照上、下、左、右每个方向各3次跌落到水平大理石平台
1.参考图二;
个方向各施加力量;
7
跌落测试
8
强度测试
上下左右4个方向力量要求大于,
不损坏;
插入方向要求大于10Kg不损坏;
测试完成后电气性能正常;
线缆无松脱,无断裂;
终端和连接器无任何功能失效,插头插入连接器中的配合正常,拔出与插入动作正常
检查终端功能:开机、充电、用配件检查连接器功能(例如,数据线传
9
强度耐久
测试力:F1=F2=1kgf
测试次数:2000次(往复算一次);
施力点为接口到SR处15mm(从外壳平面量起15mm。如
SR不足15mm,以SR的末端为施力位置,如SR末端刚性不足以施加力,则以刚性位置的末端为施力位置);
测试速度:10-15次/min
1.线缆配合母座并固定;
2.参考图一,0°,90°180°,360°各负重450g
个方向各负重10秒;
1.
2.
3.
4.
频率10~55Hz
峰峰值位移
1小时/1个方向
三个方向
输数据等)
在规定的力作用下连接器不能有损坏;弹片不能损坏或严重变形;
拆机检查,连接器与PCB或FPC的焊接处无裂纹;
旋转过程中无开路,瞬断
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旋转测试
没有大于1u秒的瞬断
11
自由振动
15
高温存储
70℃,24H
完成后返回常温停留2小时以上,进行测试
-40℃,24H
完成后返回常温停留2小时以上,进行测试
5% NaCl,35℃,8H
接口需斜向下放置,确保盐雾能进入,但同时不能在接口中形成积水.测试后将被测试线缆两端连接器在自来水下冲洗,刷洗,擦洗后,自然16小时晾干再观察
℃,95~100%湿度,168H
2.完成后返回常温停留2小时以上,进行测试
~55℃,相对湿度95%,48小时
2.完成后返回常温停留2小时以上,进行测试
采用两箱法,低温-40℃,高温85℃,高低温各停留2小时,最大转换时间为20秒,
5个循环。
试验持续循环96小时
电源pin通电
或信号pin通电
两两pin之间打(含外壳)
两两pin之间打(含外壳)
部品外观无损坏;
线缆电气性能正常
部品外观无损坏;
线缆电气性能正常
无明显腐蚀、氧化、生锈等外观不良; 所有电气性能符合规格书要求
试验后打开外壳用高倍放大镜看镀层,镀金和镀镍部分是否锈蚀
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低温存储
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盐雾测试
EIA 364
18
高温高湿
部品外观无损坏;
线缆电气性能正常
部品外观无损坏;
线缆电气性能正常
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交变湿热
20
温度冲击
部品外观无损坏;
线缆电气性能正常
21
24
26
耐UV辐射测试
温升测试
耐压测试
产品材料不得有机械和外观的变化,数据线不得有损害和变形
任意点温升不允许超过30度
认证测试100VAC/60s/
产线测试100VAC/
认证测试:500VDC/60s/100MΩ
产线测试:500VDC/10MΩ
注:内部绝缘禁止使用绝缘纸,
需使用绝缘胶带
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绝缘电阻
USB Type-C高频测试要求:
量测参数 量测仪器/条件
C TO C Cable规格值
(U2/Gen1/Gen2)
C TO Legacy Cable规格值
(U2/ Gen2)
C TO Legacy Adaptor规格值(U2/ Gen1,C-Adaptor)
Legacy Cable规格值(U2/Gen2)
Characteristic Impedance
特性阻抗
Cable@200ps Tr(10-90%)
90Ω±5Ω (85Ω--95Ω)
若SS对为SDP结构则测试此项
Cable@200ps Tr(10-90%)
TDR
45Ω± 3Ω (48Ω--42Ω)
若SS对为SDP结构则测试此项
Connector@40 ps Tr(20%-80)
85Ω ±9Ω (76Ω--94Ω) for Type C
90Ω± 10Ω (80Ω--100Ω) for Legacy
10ps/m 15ps/m
@ 200ps @ 200ps
Tr(10-90%)仅为线Tr(10-90%)仅为线材参考,非强制 材参考,非强制
-18 dB @ 100MHz
-18 dB @ 5000MHz
-12 dB @ 10000MHz N/A
-5 dB @
15000MHz
-2 dB @ 100MHz
-4 dB @ 2500MHz
-6 dB @ 5000MHz
-11dB @ 10000MHz
-20 dB @ 15000MHz
NA
For C-A Cable
≥ -2 dB @ 100
MHz
≥ dB @ GHz
≥ -6 dB @ 5 GHz
For C-B/ Micro B
Cable
≥ -2 dB @ 100
MHz
≥ -4 dB @ GHz
≥ -6 dB @ 5 GHz
N/A
N/A
N/A
N/A
同C TO Legacy
Cable
同C TO Legacy
Cable
同C TO Legacy
Cable
15ps/m
@ 200ps
Tr(10-90%)仅为线材参考,非强制
N/A
Intra-Pair
Skew
差分对内延迟
TDR
Return
Loss
反射损耗
NA
For C-A adapter
≤-15Db @ 5 GHz
Normalized with 85Ω
For C-A adapter
≥ dB @ GHz
≥ dB @ 5 GHz
Insertion
Loss
插入损耗
以通道指标要求
Differential
to
Common
Mode
Conversion
差分转共模
NEXT /FEXT
SS-SS
近端/远端串音
SS-SS
NEXT/FEXT
DD-SS(TDR
mode)
近端/远端串音
DD-SS(TDR
NA
-20 Db/ max @ to 10 GHz
N/A
-20 Db/ max @
to 10 GHz
NA
-37 dB @ 100 MHz
-37 dB @ 5000 MHz
-32 dB @ 10000
MHz
-25 dB @ 15000
MHz
-35 dB @ 100 MHz
-35 dB @ 5000 MHz
-30 dB @ 7500 MHz
只测试NEXT
For C-A adapter
SS-SS
≤ -40 dB to
≤ -34 dB to 5000
GHz
MHz
≤ -34 dB to 5
不测试FEXT SS-SS
GHz
≤ -30 dB to 5
GHz
For C-A adapter
≤ -30 dB to
GHz
只测试NEXT
SS-SS
以通道指标要求
N/A
NA
mode)
NEXT/FEXT
DD-SS TDR
近端/远端串音
DD-SS
ILfitatNq ≥
20 Db
IMR ≤ 60Mv
IXT≤ 25Mv
eW= f
W(ILfiataNq
IMR,IXT)>0( Eye Width
eH= f
H(ILfiataNq
IMR,IXT)>0( Eye Width
N/A
N/A
N/A
2%
Channel
Metrics
通道指标
NA N/A N/A N/A
安全性要求
USB数据线的安全性能应能满足CCEE规定要求。符合国际GB 4943-1995
《信息技术设备(包括电器事务设备)的安全》规定的要求。
阻燃要求:
VW-1(北美);
满足IEC60332或GB/T18380电缆在火焰条件下的燃烧试验标准(欧洲、国内)。
参考标准:IEC60950/EN60950/UL60950/GB4943、IEC60332/GB/T18380、UL1581
环保要求
本技术要求数据线所有组成材料符合ROHS要求。
符合Reach要求
满足ROSH, 且无如下有害物质添加:
溴系阻燃剂Brominated Flame Retardants
氯系阻燃剂Chlorinated Flame Retardants
聚氯乙烯Polyvinyl Chloride (PVC)
邻苯二甲酸酯Phthalates
三氧化锑 Antimony Trioxide
铍及其化合物 Beryllium (Be) and its compounds
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