Memory testing 6

Memory testing 6

四、 耦合故障

       4.1 状态耦合故障：当一个单元处于某个状态值时，另一个耦合单元被置0或1。

       4.2 翻转耦合故障：当一个单元发生上升沿跳变或下降沿跳变时，会引起另一个单元内容的翻转。

       4.3 幂耦合故障：当一个单元发生上升沿跳变或下降沿跳变时，会迫使另一个单元内容置0 或置1。

       4.4 动态耦合故障

1、State Coupling Fault (CFst)：Coupled (victim) cell is forced to 0 or 1 if coupling (aggressor) cell is in given state。

2、Inversion Coupling Fault (CFin)：Transition in coupling cell complements (inverts) coupled cell

3、Idempotent Coupling Fault (CFid)：Coupled cell is forced to 0 or 1 if coupling cell transits from 0 to 1 or 1 to 0

4、​​​​​​​Dynamic CF (CFd)：